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JTAG信号

时间:2017-10-10 14:09:45

TCK:测试时钟输入,用于移位控制,上升沿将测试指令、测试数据

和控制输入信号移入芯片;下降沿时将数据从芯片移出。

  

TMS:测试模式选择,串行输入端,用于控制芯片内部的JTAG状态机。

  

TDI:测试数据输入,串行输入端,用于指令和编程数据的输入,在时钟上升沿,数据被捕获。

 

TDO:测试数据输出,串行输出端,时钟下降沿,数据被驱动输出。

 

TRST:测试复位输入(仅用于扩展JTAG),异步、低电平有效,用于JTAG初始化时。

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